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申请/专利权人：河北博威集成电路有限公司
摘要：本发明适用于晶体振荡器技术领域，提供了一种恒温晶体振荡器的最优控温点测试方法及系统，所述方法包括：在恒温晶体振荡器的环境温度范围内选取M个不同的温度值作为环境温度采样点，在恒温晶体振荡器的控温点的温度范围内选取N个不同的温度值作为控温点采样点；采集恒温晶体振荡器在各个环境温度下的各个控温点时的输出频率，并对环境温度采样点、控温点采样点和输出频率进行三次幂曲线拟合，得到恒温晶体振荡器的最优控温点。本发明只需进行一次高低温试验便可精确获得高稳恒温晶体振荡器的最优控温点，测试效率高。
主权项：1.一种恒温晶体振荡器的最优控温点测试方法，其特征在于，包括：在恒温晶体振荡器的环境温度范围内选取M个不同的温度值作为环境温度采样点，在恒温晶体振荡器的控温点的温度范围内选取N个不同的温度值作为控温点采样点；根据所述环境温度采样点，依次控制所述恒温晶体振荡器处于不同的环境温度下，并在每个环境温度下，根据所述控温点采样点，依次设定所述恒温晶体振荡器的控温点；采集所述恒温晶体振荡器在各个环境温度下的各个控温点时的输出频率，并对所述环境温度采样点、所述控温点采样点和所述输出频率进行三次幂曲线拟合，得到所述恒温晶体振荡器的最优控温点；所述对所述环境温度采样点、所述控温点采样点和所述输出频率进行三次幂曲线拟合，得到所述恒温晶体振荡器的最优控温点，包括：以所述环境温度采样点为自变量，分别对各个控温点采样点下的输出频率进行三次幂曲线拟合，得到N个第一拟合曲线；计算每一个所述第一拟合曲线在所述环境温度范围内的极大值与极小值的差值，得到N个频率变化幅度；以所述控温点采样点为自变量，对所述频率变化幅度进行三次幂曲线拟合，得到第二拟合曲线；确定所述第二拟合曲线在所述控温点的温度范围内的极小值对应的控温点，得到所述恒温晶体振荡器的最优控温点；其中，所述三次幂曲线拟合的方法为最小二乘法。
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权利要求：
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