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申请/专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司;同方威视科技(北京)有限公司
申请日：2019-01-04
公开（公告）日：2024-05-31
公开（公告）号：CN109407163B
专利技术分类：
专利摘要：本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
专利权项：1.一种辐射检查系统，其特征在于，包括：多个辐射检查通道2，用于通过被检物4；辐射源1，设于所述多个辐射检查通道2围成的区域内，用于向所述多个辐射检查通道2发射辐射检查射线以对通过所述多个辐射检查通道2内的被检物4进行辐射检查；探测装置3，用于探测所述多个辐射检查通道2内被所述辐射检查射线照射的所述被检物的透射射线和或背散射射线；其中，所述辐射检查系统还包括输送装置，所述输送装置还包括转运装置，所述转运装置用于将被检物4从一个辐射检查通道2移动至另一个辐射检查通道2以对所述被检物进行不同角度的辐射检查。
百度查询： 清华大学 同方威视技术股份有限公司 同方威视科技(北京)有限公司 辐射检查系统和辐射检查方法
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