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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
摘要：本申请涉及一种ZQ校准方法、电路、半导体器件、测试设备和计算机可读存储介质。ZQ校准方法应用于晶圆级的半导体芯片时，包括：在目标芯片上电后，识别所述目标芯片是否已设置为主芯片；根据所述目标芯片的识别结果，选择对应的校准方式对所述目标芯片进行ZQ校准；在测试模式下切换所述目标芯片的主从芯片设置；对所述目标芯片再次执行校准。本申请可以有效提高校准功能。
主权项：1.一种ZQ校准方法，应用于晶圆级的半导体芯片，其特征在于，所述方法包括：在目标芯片上电后，识别所述目标芯片是否已设置为主芯片；根据所述目标芯片的识别结果，选择对应的校准方式对所述目标芯片进行ZQ校准；在测试模式下切换所述目标芯片的主从芯片设置；对所述目标芯片再次执行校准。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长鑫存储技术有限公司 ZQ校准方法、电路、半导体器件、测试设备
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