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申请/专利权人:德州仪器公司
摘要:本发明揭示一种系统100,其包含处理器102和耦合到所述处理器102的存储器组130。所述系统100还包含耦合到所述存储器组130的存储器修复电路110。所述存储器修复电路130包含第一修复电路116和第二修复电路118。所述存储器修复电路110还包含测试控制器114,其经配置以在所述第一修复电路116与所述第二修复电路118之间进行选择以执行所述存储器组130的现场自修复。
主权项:1.一种片上系统SoC,其包括:处理器;存储器组,其耦合到所述处理器,其中所述存储器组包含多个不同的存储器单元,所述不同的存储器单元中的每一者具有其自身的修复架构;存储器修复电路,其耦合到所述存储器组,其中所述存储器修复电路包括:第一修复电路,其与第一修复类型相关联,其中所述第一修复电路是错误编码校正ECC电路,并且其中所述存储器修复电路包含测试电路,所述测试电路经配置以:为所述不同的存储器单元中的每一者提供本地通过失败确定;提供数据字的ECC感知区域化;和提供ECC感知错误掩蔽;第二修复电路,其与第二修复类型相关联,其中所述二修复类型不同于所述第一修复类型;和测试控制器,其经配置以在所述第一修复电路与所述第二修复电路之间进行选择以执行所述存储器组的现场自修复。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 德州仪器公司 多存储器现场自修复选项的管理
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