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申请/专利权人：山东华芯半导体有限公司
摘要：本发明公开一种一种针对OpenBlock的测试方法，本方法对于一个block，从写入WL0开始，每写完一个WL的数据，就读取已经写过数据的所有WL，将所有读取的WL的数据错误位数记录下来，直至写满当前block。从WL0开始，分析从WL0至WLN的写入过程中WL0的FBC变化情况，得到所有的N个WL在写入过程中的变化情况。根据上述过程得出要保证openblock的k个WL数据稳定性与closeblock一致，需要从WLk开始向后写入至少s个WL。本方法测试得出OpenBlock的边缘页或边缘字线，根据测试方法得出的结果有针对性的对openblock进行处理，避免因为openblock问题带来的数据读取错误。
主权项：1.一种针对OpenBlock的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：S01）、选取一个block作为测试block，针对该block，从写入WL0开始，每写完一个WL的数据，就读取已经写过的所有WL，将所有读取的WL的数据错误位数记录下来，直至写满当前block，从而得到整个block写入过程中的所有数据错误位数FBC情况；S02）、设block有N个WL，closeblock是N个WL全部写满数据，openblock是只有k个WL写入数据，k∈（0，N），对于测试的每个block，分析k以后的WL的数据错误位数，若从第s个WL之后，数据错误位数呈现相对稳定的振荡状态，说明openblock的数据已经相对稳定，要保证openblock的k个WL数据稳定性与closeblock一致，从WLk向后写入至少s个WL的冗余数据，s∈（0，N-k]；与closeblock对比，k个WL里面有m个边缘的WLFBC明显升高，这m个WL称作边缘WL；执行完步骤S02）之后执行步骤S03），将所有WL都写入数据，然后对m个边缘WL进行最优电压轴扫描，扫描完成后将m组最优电压轴分别用于m个边缘WL，找到一组让每个边缘WL的FBC都满足ECC纠错能力的电压轴，这就是m个边缘WL的最优电压轴。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东华芯半导体有限公司 一种针对Open Block的测试及处理方法
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