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申请/专利权人：普冉半导体(上海)股份有限公司
摘要：本发明涉及半导体晶圆测试领域，提供了一种用于多site并行测试的测试机台防呆方法，包括：当测试机台的cable线与测试板的site连接后，通过测试机台测试每个所述site的电压值；判断每个所述site的电压值是否符合预期电压值；若所述site的电压值不符合预期电压值时，发出基于所述site的编号以及与所述site连接的cable线的编号进行现场检查的提示，以使所述site的电压值符合预期电压值；当所述site的电压值符合预期电压值后，所述测试机台通过防呆测试。
主权项：1.一种用于多site并行测试的测试机台防呆方法，其特征在于，包括：当测试机台的cable线与测试板的site连接后，通过测试机台测试每个所述site的电压值；判断每个所述site的电压值是否符合预期电压值；若所述site的电压值不符合预期电压值时，发出基于所述site的编号以及与所述site连接的cable线的编号进行现场检查的提示，以使所述site的电压值符合预期电压值；当所述site的电压值符合预期电压值后，所述测试机台通过防呆测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 普冉半导体(上海)股份有限公司 一种用于多site并行测试的测试机台防呆方法及装置
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