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申请/专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请日：2022-11-21
公开（公告）日：2023-03-14
公开（公告）号：CN115792408A
专利技术分类：.电磁场特性的测量[2006.01]
专利摘要：本申请涉及一种磁场探头和磁场探测方法。所述磁场探头包括第一端口和第二端口；所述第一端口与所述第二端口之间形成有第一探测回路，所述第一端口和所述第二端口与接地端之间形成有第二探测回路，所述第一探测回路与所述第二探测回路正交；所述第一端口，用于输出所述第一探测回路和所述第二探测回路在探测区域感应的第一电压；所述第二端口，用于输出所述第一探测回路和所述第二探测回路在探测区域感应的第二电压；其中，所述第一电压和所述第二电压用于确定所述探测区域中x方向的磁场强度和y方向的磁场强度。采用本方法能够一次性探测两个磁场分量，场景适应性强。
专利权项：1.一种磁场探头，其特征在于，所述磁场探头包括第一端口和第二端口；所述第一端口与所述第二端口之间形成有第一探测回路，所述第一端口和所述第二端口与接地端之间形成有第二探测回路，所述第一探测回路与所述第二探测回路正交；所述第一端口，用于输出所述第一探测回路和所述第二探测回路在探测区域感应的第一电压；所述第二端口，用于输出所述第一探测回路和所述第二探测回路在探测区域感应的第二电压；其中，所述第一电压和所述第二电压用于确定所述探测区域中x方向的磁场强度和y方向的磁场强度。
百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 磁场探头和磁场探测方法
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