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申请/专利权人：华为技术有限公司
申请日：2021-04-15
公开（公告）日：2022-10-21
公开（公告）号：CN115219034A
专利技术分类：
专利摘要：本申请实施例公开了一种偏振态测量装置，应用于光通信领域。偏振态测量装置包括晶体，反射结构和探测器组。当入射光入射到第一反射结构时，产生第一反射光和第一透射光。第一反射光入射至第二反射结构，产生第二反射光和第二透射光。第二反射光入射至第三反射结构，产生第三反射光和第三透射光。探测器组用于测量第一透射光，第二透射光，第三透射光和第三反射光的四个光强度。四个光强度用于得到入射光的偏振态。本申请中的第一反射光和第二反射光经过晶体，可以增加传输矩阵的数量，从而提高设计偏振态测量装置的灵活性。
专利权项：1.一种偏振态测量装置，其特征在于，包括：晶体，反射结构和探测器组；所述反射结构包括第一反射结构，第二反射结构和第三反射结构；当入射光入射到所述第一反射结构时，产生第一反射光和第一透射光；所述第一反射光入射至所述第二反射结构，产生第二反射光和第二透射光；所述第二反射光入射至所述第三反射结构，产生第三反射光和第三透射光；其中，所述第一反射光和所述第二反射光的传输路径经过所述晶体；所述探测器组用于测量所述第一透射光，所述第二透射光，所述第三透射光和第三反射光的四个光强度，所述四个光强度用于得到所述入射光的偏振态。
百度查询： 华为技术有限公司 偏振态测量装置和偏振态测量方法
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