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一种穆勒矩阵测量装置专利

发布时间:2022-06-06 19:09:50 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 一种穆勒矩阵测量装置

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申请/专利权人:佛山科学技术学院;佛山市灵觉科技有限公司

申请日:2021-10-28

公开(公告)日:2022-05-27

公开(公告)号:CN216622148U

专利技术分类:..影响偏振的性质(G01N21/19优先)[2006.01]

专利摘要:本实用新型提供一种穆勒矩阵测量装置,包括:光源、第一分光器、第二分光器、第一检偏器、接收光路、第二检偏器,光源产生多个不同偏振态的入射偏振光,经第一分光器分成两路入射偏振光;其中一路入射偏振光进入第一检偏器进行实时检偏;另一路入射偏振光经入射光路投射在样品上;接收光路接收样品被照射后所散射的出射光后传输至第二检偏器进行实时检偏;其中,光源包括多个用于分别产生不同偏振态的入射偏振光的发光组件、用于控制多个发光组件开关的控制器以及将多个发光组件发出的入射偏振光投射到第一分光器上的投射组件。本实用新型能够快速连续地转换入射偏振光的偏振态,满足对快速变化的样品进行穆勒矩阵测量。

专利权项:1.一种穆勒矩阵测量装置,其特征在于,包括:用于产生多个不同偏振态的入射偏振光的光源;第一分光器,设置在所述光源的出射光路上,用于将入射偏振光分成两路入射偏振光;第一检偏器,设置在所述第一分光器的反射光路上,用于对所述第一分光器分出的一路入射偏振光进行实时检偏以获取入射偏振光的偏振态;入射光路,设置在所述第一分光器的透射光路上,用于将所述第一分光器分出的一路入射偏振光投射在样品上;接收光路,设置在所述入射光路一侧,且与所述入射光路之间形成夹角,用于接收样品被照射后所散射的出射光;第二检偏器,设置在所述接收光路远离样品的一侧,用于对所述接收光路接收的出射光进行实时检偏以获取出射光的偏振态;其中,所述光源包括多个用于分别产生不同偏振态的入射偏振光的发光组件、与多个发光组件连接并用于控制多个发光组件开关的控制器以及设置在多个发光组件的出射光路上并将多个发光组件发出的入射偏振光投射到第一分光器上的投射组件。

百度查询: 佛山科学技术学院 佛山市灵觉科技有限公司 一种穆勒矩阵测量装置

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