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申请/专利权人:昆山国显光电有限公司
申请日:2018-03-16
公开(公告)日:2021-01-29
公开(公告)号:CN108375826B
专利技术分类:
专利摘要:本发明揭示了一种显微镜及显微镜观测方法,所述显微镜包括物镜模块,用于进行样品观测;探测模块,用于探测自身与样品之间的距离,所述探测模块的探测方向包括所述物镜模块下方;分析模块,用于接收所述探测模块的信息并根据所述探测模块的信息计算所述物镜模块与所述样品之间的距离;以及执行模块,用于依据所述分析模块计算的所述物镜模块与所述样品之间的距离调整所述物镜模块的位置。这样能够准确监控物镜模块与样品之间的距离,从而避免镜头与样品发生接触或碰撞的情况。
专利权项:1.一种显微镜,其特征在于,包括:物镜模块,用于进行样品观测;探测模块,用于探测自身与样品之间的距离,所述探测模块的探测方向包括所述物镜模块下方;分析模块,用于接收所述探测模块的信息并根据所述探测模块的信息计算所述物镜模块与所述样品之间的距离;以及执行模块,用于依据所述分析模块计算的所述物镜模块与所述样品之间的距离调整所述物镜模块的位置,并使所述物镜模块与所述样品之间的距离不小于设定值;所述探测模块的探测方向与所述物镜模块的轴向的交点距离所述物镜模块的底面的间距大于或等于目标值,且当所述探测模块的探测方向、所述物镜模块的轴向以及所述样品朝向所述物镜模块的一面共点时,所述物镜模块的底面距离所述样品之间的间距为所述目标值。
百度查询: 昆山国显光电有限公司 显微镜及显微镜观测方法
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