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申请/专利权人：福州大学;闽都创新实验室

摘要：本发明涉及一种NLED像素设置及修复方法。每个发光像素单元包括n个NLED芯片，每个像素单元包括至少m个NLED发光体；所述NLED芯片电极和驱动背板电极均设置有互连区域和备用区域，通过Au‑In键合、非Au‑In互连或Au‑In键合和非Au‑In互连的复合方式将所述NLED芯片电极的互连区域与驱动背板像素电极的互连区域相连后，采用实时监测电极区域进行检测，在相应不良区域通过原位非Au‑In连接方式将NLED芯片电极备用区域连接到驱动背板电极的对应备用区域上以进行修复，不必去除键合和连接不可靠的NLED芯片。本发明有效地降低了LED器件的制作周期和制作成本，并且大大提高了LED显示器件的良品率。

主权项：1.一种NLED像素设置及修复方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供一驱动背板，所述驱动背板包括k个阵列排列的像素区域，每个像素区域的电极均设置有互连区域和备用区域；其中，k为大于等于1的自然数；步骤S2、采用电泳、流体自组装、静电或范德瓦耳斯方式在驱动背板每个像素区域的阳极和阴极之间设置ni个NLED芯片，且该ni个NLED芯片具有取向且无需精准取向和定位，所述NLED芯片的电极设置有互连区域和备用区域；驱动背板每个像素区域包括至少mi个NLED发光体，所述NLED发光体为可以正常发光的NLED芯片；其中，mi、ni为大于等于1的自然数，且mi≤ni，i为大于等于1的自然数，且1≤i≤k；步骤S3、采用Au-In键合、非Au-In互连、Au-In键合和非Au-In互连的复合方式将NLED芯片电极的互连区域与驱动背板像素区域电极的互连区域进行连接；步骤S4、采用直接电学接触电流注入的逐点扫描或无直接电学接触的电场驱动方式对NLED芯片进行驱动发光；步骤S5、通过记录逐点扫描时不良NLED像素的行列地址或拍摄发光图片并进行图像处理获得不良NLED像素的行列地址，实时监测不良NLED像素；步骤S6、根据步骤S5提供的不良NLED像素的行列地址进行寻址，采用非Au-In互连方法在相应位置的NLED芯片电极的备用区域与驱动背板像素区域电极的备用区域进行原位修复，实现电极之间的重新互连；步骤S7、重复S4-S6步骤，直至NLED显示阵列的良率达到预期良率。

全文数据：

权利要求：

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