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申请/专利权人:英飞凌科技股份有限公司
申请日:2014-08-01
公开(公告)日:2015-02-11
公开(公告)号:CN104348588A
专利技术分类:
专利摘要:本发明涉及多位错误的有效错误校正。用于错误校正的电路包括用于确定待用作在错误校正表达式中的系数的中间值Zw0,Zw1,Zw2,Zw3的多个子电路。中间值根据子校验子s1,s3,s5来确定,使得在1位错误或2位错误或3位错误的情况下,当错误出现在位位置i中时,以及当没有错误出现在位位置i中时。可以接着基于对估计的错误校正表达式来确定位位置i的校正值。
专利权项:一种用于对在n位数二进制字v’=v’1,…,v’n中的位的至少1位、2位和3位错误进行错误校正的电路SK,所述错误由来自在Galois域GF2m 上的二进制BCH代码C的n位数码字的位错误产生,其中m ≥ 4,其中所述代码C包括至少d ≥ 7的码距离,其中所述BCH代码C包括H矩阵H,使得所述H矩阵的第一m行形成子矩阵H1,所述H矩阵的第二m行形成第二子矩阵H3,以及所述H矩阵的另外的m行形成第三子矩阵H5,其中:以及其中适用,α是在其矢量表示中作为m分量二进制列矢量的Galois域GF2m的元素,且αj的相应指数j将被解释为以2m ‑ 1为摸,且n ≤ 2m ‑ 1适用,所述电路包括:校验子生成器Synd,其被配置成确定错误校验子s,其中s的第一m个分量形成m分量子校验子s1,s的第二m个分量形成第二m分量子校验子s3,以及s的另外m个分量形成第三子校验子s5,其中s1 = H1 ·v’, s3 = H3 · v’ 以及s5 = H5 · v’适用,多个子电路,其中对于遭受n位数二进制字v’=v’1,...,v’n的可能错误校正的每个位vi’,存在子电路SKi,所述子电路SKi被配置成使得它根据下列关系式从中间值形成校正值,所述中间值对于遭受可能错误校正的所有位位置是相等的:其中以及所述中间值根据所述子校验子s1, s3, s5来确定,使得在1位错误或2位错误或3位错误的情况下,下列情况适用:当错误出现在所述位位置i中时,以及当没有错误出现在所述位位置i中时;其中,为了确定中间值和,均存在一个子电路和,所述子电路均被配置成使得它为遭受所述字v’的可能错误校正的每个位位置从所述子校验子s1, s3, s5提供所述相同的中间值和;以及组合电路Vkn,被配置成以分量方式将遭受可能错误校正的位v’i与由所述子电路SKi提供的对应校正值组合成可能校正后的位。
百度查询: 英飞凌科技股份有限公司 多位错误的有效错误校正
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