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高精度测温探头及高精度测温仪专利

发布时间:2019-03-06 10:35:40 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 高精度测温探头及高精度测温仪

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申请/专利权人:深圳市瑞比德传感技术有限公司

申请日:2018-10-22

公开(公告)日:2019-01-29

公开(公告)号:CN109282911A

专利技术分类:..元件为线性电阻,例如,铂电阻温度计(G01K7/26优先)[2006.01]

专利摘要:本发明揭示了一种高精度测温探头,包括金属壳体、测温芯片、隔热层、外壳和导线;金属壳体的底部设有凹槽,凹槽底部靠近金属壳体的顶部;测温芯片设于凹槽内,且与凹槽底部贴靠;测温芯片与导线连接;外壳包裹在导线外侧;外壳的一端与金属壳体的底部之间有间隙,且外壳的一端与金属壳体的底端通过隔热层连接。本发明设计的高精度测温探头为平面设计,可以测试各种平面型的发热源,可以使高精度测温探头与发热源完全接触,测温效果更好;同时在高精度测温探头增加了隔热层,这样能促进高精度测温探头的反应时间和增加测温精度;使用三线制导线、高精度的铂电阻测温芯片,使得高精度测温探头在测温精度上超越传统的很多。

专利权项:1.一种高精度测温探头,其特征在于,包括金属壳体、测温芯片、隔热层、外壳和导线;所述金属壳体的底部设有凹槽,所述凹槽底部靠近所述金属壳体的顶部;所述测温芯片设于所述凹槽内,且与所述凹槽底部贴靠;所述测温芯片与所述导线连接;所述外壳包裹在所述导线外侧;所述外壳的一端与所述金属壳体的底部之间有间隙,且所述外壳的一端与所述金属壳体的底端通过所述隔热层连接。

百度查询: 深圳市瑞比德传感技术有限公司 高精度测温探头及高精度测温仪

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