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申请/专利权人：吴峰山;吴弋
申请日：2009-06-21
公开（公告）日：2010-11-10
公开（公告）号：CN101586937B
专利技术分类：.用于计量直径[2006.01]
专利摘要：本发明公开了一种双基面高度卡尺，包括底座、垂直于底座的尺身、尺身上滑动的尺框和尺框上的测量爪杆，所述底座具有双基面结构，即底座的下平面为下测量基面和底座的上表面为上测量基面，所述测量爪杆为两个，分别对应于上、下测量基面；上测量基面为曲面或平面；所述测量爪杆与尺框固定连接或与尺框采用可拆卸方式连接。本发明既可以利用底座的下测量基面与平板结合对工件进行测量或划线，又能利用底座的上测量基面和相应测量爪杆单独测量工件的直径、高度、深度等尺寸，也可对小型工件进行划线等操作，比普通高度卡尺扩大了适用范围。
专利权项：双基面高度卡尺，包括底座1、垂直于底座1的尺身2、尺身2上滑动的尺框3和尺框3上的测量爪或测量杆4，其特征在于：所述底座1具有双基面结构，即底座1的下表面为一个与平板结合的下测量基面5，上表面为一个单独的上测量基面6；所述测量爪或测量杆4有两个，两个测量爪或测量杆4分别对应于上、下测量基面6、5。
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