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申请/专利权人：京元电子股份有限公司
申请日：2009-02-23
公开（公告）日：2010-08-25
公开（公告）号：CN101813744A
专利技术分类：.单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）[2020.01]
专利摘要：本发明是有关于一种平行测试系统以及平行测试方法，特别是有关一种应用于开放式测试系统而实行平行测试的平行测试系统以及平行测试方法。本发明包含一简单的平行测试巨集指令的平行测试转换装置，而使开放式测试系统可以进行平行测试，而不需使用一复杂的前编译器pre-compiler，因此，可以降低测试成本以及改善测试效能。
专利权项：一种平行测试系统，用以进行循序测试与平行测试之间，其特征在于其包含：一测试控制装置，用以控制半导体元件测试的流程与运作；一平行测试转换装置，用以进行循序测试与平行测试之间的切换；以及一测试执行装置，用以接受该测试控制装置所提供的测试指令与该平行测试转换装置所提供的测试模式，并根据该测试指令与该测试模式执行测试。
百度查询： 京元电子股份有限公司 平行测试系统以及平行测试方法
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