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龙图腾网恭喜中国原子能科学研究院申请的专利一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN108709901B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-01-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201810912942.5，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置是由崔大庆;郑维明;康海英设计研发完成，并于2018-08-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置，包括压环部件、样品盘和样品架；所述样品盘表面高于所述样品架；所述压环部件与所述样品架配合以使待测量滤膜绷紧在所述样品盘表面。本发明的有益效果如下：本发明能够迅速使滤膜表面平整，实现X光全反射，因而能够使用TXRF技术直接快速分析滤膜载大气颗粒物的元素成分，分析时间从以前的转膜制样分析所需的三个小时缩短为10分钟，大大提高了效率，降低了工作强度和分析成本，并且因为制样和分析都是非破坏性的，可以使珍贵的滤膜载大气颗粒物样品得以保存。

本发明授权一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置在权利要求书中公布了：1.一种使大气滤膜保持平整以便用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置，其特征在于：包括压环部件、样品盘和样品架；所述样品盘表面高于所述样品架；所述压环部件与所述样品架配合以使待测量滤膜绷紧在所述样品盘表面，所述压环部件为钢制压环，所述样品架上设置有能够吸引所述钢制压环,以使其将待测量滤膜压在所述样品架上的磁铁块，所述磁铁块为多个，均匀设置于所述样品架上，所述压环部件的材料具有均匀的磁性；所述样品架上至少部分为能够与所述磁性压环部件相配合的铁磁性材质，所述样品盘为石英盘，所述石英盘的上表面与所述样品架的标高差为0.5-3mm，实现X光的全反射，使TXRF快速分析技术能用于日常的滤膜载大气颗粒物的分析检测。

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