恭喜中国科学技术大学张森获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学技术大学申请的专利一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN111278205B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-09-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202010186827.1,技术领域涉及:H05H1/00;该发明授权一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪是由张森;兰涛;庄革;刘万东设计研发完成,并于2020-03-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪在说明书摘要公布了:本发明公开了一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪,由1550nm和1310nm激光器、2×2耦合器、3×3耦合器、准直器、衰减器、光电探测器、波分复用器、补偿光纤、PZT位移器和采集控制模块组成。本发明双色激光光纤干涉仪克服了传统单色光纤干涉仪在等离子体密度测量领域只能短时间测量缺点,测量出环境带来的相位漂移并且使用PZT位移器进行补偿,测量时间从一般光纤干涉仪的1毫秒内扩展到10秒以上,整个干涉仪构成简便,光路部分为全光纤结构,易安装且成本可控。
本发明授权一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪在权利要求书中公布了:1.一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪,其特征在于:由1550nm和1310nm激光器、2×2耦合器、3×3耦合器、准直器、衰减器、光电探测器、波分复用器、补偿光纤、PZT位移器和采集控制模块组成,1550nm和1310nm激光器分别连接在2×2耦合器输入端,2×2耦合器分光比1:1,两束15501310nm混合在一起的光线出射,一路光依次穿过衰减器,准直透镜,等离子体,准直透镜,连接到3×3耦合器的一个输入端,称为信号光,另一束光穿过衰减器,补偿光纤,PZT位移器,连接到3×3耦合器的另一个输入端,称为参考光,当穿过等离子体的信号光和经过补偿的参考光进入3×3耦合器后,在3×3耦合器的输出端连接3个波分复用器,每个波分复用器后连接两个光电探测器,光电探测器后接信号采集模块和PZT控制模块,PZT控制模块与PZT位移器相连,形成反馈控制;准直透镜是为了使激光在光纤与自由空间之间自由转换,使激光穿过自由空间等离子体,两个衰减器是为了使两束光线进入3×3耦合器的功率大致相等,补偿光纤是使两路光的光程差相等,PZT位移器能够产生μm级别的位移,用于小范围调节光纤长度,波分复用器是将混合在一起的经过干涉后的1310nm与1550nm混合光分开输入光电探测器,光电探测器采用6个InGaAs半导体探测器,用于将光信号转换成电压信号,信号采集模块和PZT控制模块是将电信号采集存储并计算出等离子体密度信号和环境带来的光纤位移,同时控制PZT位移器进行补偿。
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